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發(fā)布時(shí)間:2024-08-04
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簡(jiǎn)要描述:
可編程高低溫試驗(yàn)箱恒溫恒濕交變循環(huán)測(cè)試箱適于儀器儀表,化工、生物,醫(yī)藥等產(chǎn)品進(jìn)行高溫,低溫環(huán)境下的性能測(cè)試,篩選或考核試驗(yàn),恒溫恒濕測(cè)試箱是對(duì)產(chǎn)品研制過程中進(jìn)行高低溫環(huán)境測(cè)試或試驗(yàn)。
可編程高低溫試驗(yàn)箱恒溫恒濕交變循環(huán)測(cè)試箱宇航志達(dá)小型高低溫恒溫恒溫試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下
貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn);是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐
寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備;特別適用于光纖、LED、晶體、電感
、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗(yàn)。
可編程高低溫試驗(yàn)箱恒溫恒濕交變循環(huán)測(cè)試箱宇航志達(dá)小型高低溫恒溫恒溫試驗(yàn)箱規(guī)格參數(shù)內(nèi)部尺寸(W×H×D)50×60×50cm外部尺寸:(W×H×D)110×146×127cm溫度范圍:-20℃~+150℃ 濕度范圍:20%~98%RH 溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃ 濕度波動(dòng)度:≤ ±3.0%RH 溫度均勻度:≤±2.0℃ 濕度均勻度:≤ ±2.5%RH 溫度**度:0.01 濕度**度:0.1 升溫速度:約5.2℃/分鐘 降溫速度:約1.2℃/分鐘
高低溫試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn):
GB/T2423.1~2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)。A:低溫試驗(yàn)方法、試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》.三、執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn):1.GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;2.GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;3.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;4.GB2423.1低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A
5.GB2423.2高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B. GB/T2423.34-2005高、低、溫度組合循環(huán)試驗(yàn)。
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宇航志達(dá)高低溫冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱
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